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扫描电迁移率粒径谱仪

产品详情

TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪被广泛应用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量标准。该系统同样被应用于对液体悬浮颗粒进行精确的纳米颗粒粒径测量。美国国家标准与技术局(NIST)使用TSI差分静电迁移率分析仪(DMA)对60nm和100nm的标准参考粒径进行测量。SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪粒径测量是审慎的技术,在该技术方法中计数浓度会被直接测量而无需假设粒径分布的形状。


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3757 型 纳米增强仪

粒径范围

最小可检测

粒子 (D50): 1.4 nm ( 电迁移率直径,几何直径 1.1nm),用氯化钠粒子验证


流量

气溶胶流速:2.5 L/min

气溶胶出口流速 :1.0 L/min

输送流量 :1.5 L/min

流源: 外部真空

流量控制:体积流量由输送流量内部孔板控制。 气溶胶流速由 3750 型 CPC 控制。


气溶胶介质

建议与空气一起使用;可与氮气、氩和氦等惰性气体安全 使用(技术参数适用于空气)


液体系统 

二甘醇(DEG,≥ 99%,不含)用作工作液。使用水分离 器和可再填充干燥器干燥鞘气。建议使用内部排水泵清除 冷凝水。


通信 

嵌入式触摸显示屏,USB-C 型,可将纳米增强仪直接连接 到 3750 型 CPC。


所需附件

电气:100 to 240 VAC, 50/60 Hz, 最小功率 240W。自动恢复内置电源故障

真空:最小压力 60 kPa (18 in Hg) ( 低于大气压力 )

包含:注水和排水瓶、干燥器


物理特征 

尺寸: (H x W x D) 30x28.2x32.5cm(11.8x11x12.6in.), 不包括注水瓶和支架

重量:9.1 kg (20 lbs)

 

1nm CPC 系统 (3757 型纳米增强仪和 3750 型 CPC)

粒径范围

最小可检测

粒子 (D50): 1.4 nm ( 电迁移率直径,几何直径 1.1nm),用氯化钠粒子验证

粒子浓度范围

 0 - 3x105 粒子 /cm3 , 单粒子连续计数,实时一致性校正。

粒子浓度精度

<1.65 x 105 粒子/cm3时,为±10% ,3 x 105粒子/cm3时,为±15%

错误计数背景

<0.01 x 105 粒子/cm3,基于12小时平均值

响应时间

<4s 95%-浓度显著变化响应

目录项目

型号         说明

3757-50 1 nm  凝聚核粒子计数器

3032         真空泵 110V

3032-1       真空泵 230 V/50 Hz

3750-MKIT    CPC 维修工具

3750-WKIT    CPC 吸液芯更换工具

3772200      环境采样系统


扫描电迁移率粒径谱仪

型号:3938


  TSI3938,tsi推出的SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪被广泛应用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量标准。该系统同样被应用于对液体悬浮颗粒进行精确的纳米颗粒粒径测量。美国国家标准与技术局(NIST)使用TSI差分静电迁移率分析仪(DMA)对60nm和100nm的标准参考粒径进行测量。SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪粒径测量是审慎的技术,在该技术方法中计数浓度会被直接测量而无需假设粒径分布的形状。该方法不依赖于粒子或液体的折射率且具有高度的绝对粒径测量精度和测量可重复性。第三代3938型SMPS采用模块化、基于组件的设计,不但具有非常高的粒径分辨率,还具有快速扫描(每次扫描小于15秒)和自动组件识别功能。TSI SMPS易于使用,并可以为研究人员提供最高质量数据,是研究人员进行纳米粒子粒径分布测量的最佳选择。TSI的3938型仪器是SMPS第三代产品,历经30年深受研究者信任。


应用

· 纳米技术研究和材料合成

· 大气研究和环境检测

· 工程纳米材料科学研究

· 过滤器和空气净化器测试

· 燃烧和发动机排放研究

· 室内空气质量测量

· 成核/凝结研究

· 吸入毒理学研究    

 

包含组件

· 与您自选DMA差分静电迁移率分析仪配套的静电分级器

· 七款凝聚粒子计数器之一

· Aerosol Instrument Manager®气溶胶仪器管理软件  

用于数据采集的电脑须单独购买。


功能:

SMPS 粒径谱仪由以下组件组成:3082 型静电分级器、 3086 型 1nm DMA、3757 型纳米增强仪、3750 型凝聚核 粒子计数器

+ 高分辨率粒径分布;

+ 每 10 倍粒径 64 个通道

+ 1-50nm 间通道数 >109 个

+ 最大灵活性的组件设计

+ 1nm-50nm 宽粒径范围

+ 通过和 3081a 型长 DMA 配套使用,能够测量从 1nm 到 1µm 的 3 个 10 倍粒径的粒径分布

+ 针对最小扩散损失和系统集成进行优化

+ 使用气溶胶仪器管理器(AIM)软件进行统一的系统操作

+ 精密的粒子测量:适用于多模态样品

 备注:美国TSI粒径谱仪3938,美国TSI扫描电迁移率粒径谱仪3938,美国tsi3938,代理美国TSI扫描电迁移率粒径谱仪3938,TSI3938,TSI粒径谱仪,tsi粒子成像仪。

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